45MG奧林巴斯超聲測厚儀是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的超聲測厚儀。測厚儀厚度范圍視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定，45mg測厚儀帶有一個功能齊全的內置雙向字母數字式數據記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數和波形數據。這個選項包含基于windows的gageview接口程序。數據記錄器：帶有波形調整功能的實時掃描：用戶使用這個可選實時a掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形(或稱a掃描)，核查厚度測量讀數，對增益和空白設置進行手動調整，以在具有挑戰性的應用中大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調整、擴展空白、回波空白、范圍及延遲參數。
45MG奧林巴斯超聲測厚儀回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個厚度都根據它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此，在進行厚度測量時，無需去掉材料表面的漆層或涂層。自動回波到回波模式在兩個連續底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。穿透涂層測量可以利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度。
45MG奧林巴斯超聲測厚儀單晶探頭測量模式激勵脈沖與個底面回波之間的時間間隔；延遲塊回波與個底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊或水浸式探頭)；在激勵脈沖之后，位于個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊探頭或水浸式探頭)。單晶這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷，進行非常精確的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25mhz到30mhz的單晶microscan探頭相兼容。單晶高穿透：這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進行厚度測量?？膳c范圍在0.5mhz到30mhz的單晶microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
